MD-1型粉塵粒度分析

一、產品介紹

本產品采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。讀數(shù)直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。

主要用于實驗室測定粉塵粒度分布。

二、產品參數(shù)

（1）粉塵粒度分布測定范圍：0～150µm。測定粉塵累積質量篩上分布，粉塵粒度分級為
150µm、100、80µm、60µm、50µm、40µm、30µm、20µm、10µm、8µm、7µm、6µm、5µm、
4µm、3µm、2µm、1µm。
（2）測定誤差：d＜40µm時，粉塵粒度分布重復測定誤差≤10%；
（3）工作電源：220VAC。
（4）外形尺寸：430㎜×285㎜×300㎜。
（5）重量：15kg。

三、產品特點

（1）采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。
（2）讀數(shù)直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。
（3）儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。

在現(xiàn)代陶瓷材料方面，納米顆粒構成的功能陶瓷是目前陶瓷材料研究的重要方向。通過使用納米材料形成功能陶瓷可以顯著改變功能陶瓷的物理化學性能，如韌性。陶瓷粉體材料的許多重要特性均由顆粒的平均粒度及粒度分布等參數(shù)所決定。在涂了領域，顏料粒度決定其著色能力，添加劑的顆粒大小決定了成膜強度和耐磨性能。在電子材料領域，熒光粉粒度決定電視機、監(jiān)視器等屏幕的顯示亮度和清晰度。在催化劑領域，催化劑的粒度、分布以及形貌也部分地決定其催化活性。因此，隨著科學技術發(fā)展，有關顆粒粒度分析技術受到人們的普遍重視，已經逐漸發(fā)展成為測量學中的一支重要分支。

隨著納米材料在高心技術產業(yè)、國防、醫(yī)藥等領域的廣泛應用，顆粒測量技術將向測量下限低、測量范圍廣、測量準確度和精確度高、重現(xiàn)性好等方向發(fā)展。因此，對顆粒測量技術的要求也越來越高。綜觀各種顆粒測量方法和技術，為適應顆粒粒度分析的更高要求，光散射法、基于顆粒布朗運動的測量方法和質譜法等顆粒粒度分析手段將更加完善并得到更廣泛的應用。為了適合納米科技發(fā)展的需要，納米材料的粒度分析方法逐步成為粒度分析的重要內容。目前，適合納米材料粒度分析的方法主要是激光動態(tài)光散射粒度分析法和光子相關光譜分析法，其測量顆粒小粒徑可以達到20nm和1nm。

MD-1型粉塵粒度分析儀